Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопы оптические<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

RU-LAN-BOOK-73017

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхард. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки

УДК

537.533.35

ББК В338.4

Рубрики: Инженерно-технические науки--Машиностроение--Техносфера

Кл.слова (ненормированные):
акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая -- атомно-силовая микроскопия -- волна -- волокно -- дифракция -- излучение -- изображение -- изображения (цифровая обработка) -- исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- конструкционные материалы -- конфокальная лазерная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- лазерная -- линза -- материаловедение -- микроскоп -- микроскопические методы -- микроскопия -- микроскопия оптическая -- микроскопия отраженного света -- микроскопы оптические -- монография -- оптика (исследования) -- пленка -- поляризация -- рамановская -- рамановская микроскопия -- растровая -- рентгеновская микроскопия -- светофильтр -- сканирующая -- сканирующая акустическая микроскопия -- спектроскопия -- стеклопластик -- томография -- тонкая -- фотоника -- цифровое -- цифровые изображения -- электромагнитное -- электромагнитное излучение -- электронная микроскопия -- эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.

Найти похожие

   55
   Р 49

    Рид, С. Дж. Б.
    Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2008. - 229 с. : ил., цв.ил., 4 л. цв. ил. - (Мир наук о Земле). - ISBN 978-5-94836-177-2 : 636.68 р.

ГРНТИ	38.01
УДК	55:537.533.35

Кл.слова (ненормированные):
ГЕОЛОГИЯ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеновские спектрометры -- РАСТРОВАЯ электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- ЭЛЕКТРОННЫЕ Линзы -- электронные микрозонды -- СПЕКТРОМЕТРЫ рентгеновские -- МИКРОСКОПЫ оптические
Доп.точки доступа:
Петров, Д. Б. \пер.\
Романенко, И. М. \пер.\
Ревенко, В. А. \пер.\

Экземпляры всего: 3
абунл (2), кнхр (1)
Свободны: абунл (2), кнхр (1)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 31.05.2024
Число запросов	11542
Число посетителей	1010
Число заказов	0