Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Полные тексты изданий ПГТУ (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=спектрофотометры<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
   621.3
   Ш 32


    Шашин, Дмитрий Евгеньевич.
    Технологии изготовления и измерения оптических характеристик тонких пленок для применения в приборостроении [Текст : Электронный ресурс] : лабораторный практикум по направлениям подготовки 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника", 12.03.01 "Приборостроение", 21.10.00 "Конструирование и технология электронных средств", 12.03.04 "Биотехнические системы и технологии", 11.04.01 "Радиотехника", 27.03.04 "Управление в технических системах" / Д. Е. Шашин ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, ФГБОУ ВО "Поволжский государственный технологический университет". - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2022. - 82 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 82 (6 назв.). - ISBN 978-5-8158-2289-4 : 101.74 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 31.2я73

Рубрики: Электротехника--Тонкие оптические пленки

Кл.слова (ненормированные):
Приборостроение -- Тонкие оптические пленки -- Оптические информационные приборы -- Спектрофотометры СФ-2000 -- 11.04.01 -- 12.03.02 -- 21.10.00 -- 12.03.04 -- 11.04.01 -- 27.03.04 -- лабораторные практикумы
Перейти к внешнему ресурсу Технологии изготовления и измерения оптических характеристик тонких пленок для применения в машиностроении.
Экземпляры всего: 7
чз№2 (7)
Свободны: чз№2 (7)

Найти похожие

2.
   54
   Б 42


    Бёккер, Юрген.
    Спектроскопия [Текст] : [монография] / Ю. Бёккер ; пер. с нем. Л. Н. Казанцевой под ред. А. А. Пупышева, М. В. Поляковой. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2009. - 527 с. : ил. - (Мир химии). - ISBN 978-5-94836-220-5 : 772.64 р.
ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
МОНОГРАФИИ -- ИК-спектроскопия -- флуорометрия -- ИК-спектрометры -- микроскопия комбинационного рассеяния -- микроволновая спектроскопия -- атомно-абсорбционная спектроскопия -- атомно-флуоресцентная спектроскопия -- МАСС-СПЕКТРОметрия -- спектроскопия ЯДЕРНого МАГНИТНого РЕЗОНАНСа -- рентгенофлуресцентный анализ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ СПЕКТРОМЕТРЫ -- спектрофотометры
Доп.точки доступа:
Казанцева, Л. Н. \пер.\

Экземпляры всего: 10
чз№2 (1), абунл (8), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (1), абунл (8), кнхр (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 01.06.2024
Число запросов 32050
Число посетителей 952
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».