Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Статьи (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ЭЛЕКТРОННАЯ Спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Груздов, Вадим Владимирович.
    Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Электронный ресурс] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 328 с. : ил. - Библиогр.: с. 302-327. - ISBN 978-5-94836-426-1 : Б. ц.

Рубрики: Транзисторы сверхвысокочастотные

Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- омические контакты -- рентгеновские методы -- аппаратура -- нитрид-галлиевые приборы -- примеси -- электронная спектроскопия -- стандарты -- интеллектуальная собственность -- СВЧ-транзисторы -- СВЧ-электроника -- создание -- технологические процессы -- широкозонные материалы -- выявление -- дефекты -- гетероструктуры -- оптические методы -- качество -- электрический контроль -- тепловой контроль -- ЭБС ЛАНЬ
Аннотация: "В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе. Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры."
В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзи­сторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется техноло­гия производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пуль­сар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе.Книга будет полезна специалистам в области электроники, иссле­дователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектрон­ной аппаратуры.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024

Доп.точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович


Найти похожие

2.
   620.3
   С 89


    Суздалев, Игорь Петрович.
    Нанотехнология [Текст] : физико-химия нанокластеров, наноструктур и наноматериалов / И. П. Суздалев. - Москва : Либроком, 2013. - 589 с. : ил. - (Синергетика: от прошлого к будущему ; № 25). - ISBN 978-5-397-03389-3 : 787.00 р.
ГРНТИ
УДК

Кл.слова (ненормированные):
НАНОСТРУКТУРЫ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОКЛАСТЕРЫ -- НАНОТРУБКИ -- УГЛЕРОДНЫЕ кластеры -- кластеры инертных газов -- коллоидные кластеры -- УГЛЕРОДНЫЕ НАНОТРУБКИ -- ТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- ФУЛЛЕРиты -- ОПТИЧЕСКИЕ наноустройства -- КЛАСТЕРНЫе реакции -- МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ спектроскопия -- ЭЛЕКТРОННАЯ Спектроскопия -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

 
Статистика
за 14.06.2024
Число запросов 14674
Число посетителей 482
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».