Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Статьи (4)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620/Б 87
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов : методы исследования и контроля : [учеб. пособие для студентов по направлению подгот. "Прикладные математика и физика"]
Выходные данные : М.: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :377 c.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
ISBN, Цена 5-94836-018-0: 259.00 р.
ГРНТИ : 81.09.01
УДК : 620.22(075.8)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--электронная микроскопия--оптическая микроскопия--учебные пособия--гриф института химической физики ран--материалы (исследования)--материалы (контроль)--материалы (микроструктура)
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.3/Г 60
Автор(ы) : Головин, Юрий Иванович
Заглавие : Наномир без формул
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012
Колич.характеристики :543 с.: ил.
ISBN, Цена 978-5-9963-0292-5: 630.00, 630.00, р.
ГРНТИ : 81.13.01
УДК : 620.3(075)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнология--учебные издания--электронная микроскопия--сканирующая зондовая микроскопия--наноматериалы--наночастицы--нанопорошки--тонкопленочные наноструктуры--наноэлектроника--нанотехника--наноприборы--нанобиотехнология--наномедицина--наноэтика--нанонаука
Экземпляры : всего : чз№2(1), кнхр(1)
Свободны : чз№2(1), кнхр(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович,
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :328 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 302-327.
ISBN, Цена 978-5-94836-426-1: Б.ц.
Предметные рубрики: Транзисторы сверхвысокочастотные
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия--омические контакты--рентгеновские методы--аппаратура--нитрид-галлиевые приборы--примеси--электронная спектроскопия--стандарты--интеллектуальная собственность--свч-транзисторы--свч-электроника--создание--технологические процессы--широкозонные материалы--выявление--дефекты--гетероструктуры--оптические методы--качество--электрический контроль--тепловой контроль--эбс лань
Аннотация: "В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе. Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры."В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзи­сторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется техноло­гия производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пуль­сар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе.Книга будет полезна специалистам в области электроники, иссле­дователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектрон­ной аппаратуры.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.3/Г 96
Автор(ы) : Гусев, Александр Иванович
Заглавие : Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии . -Изд. 2-е, испр.
Выходные данные : М.: Физматлит, 2009
Колич.характеристики :414 c.: ил.
ISBN, Цена 978-5-9221-0582-8: 469.00, 469.00, р.
ГРНТИ : 81.09.01
УДК : 620.3 + 620.22-022.532
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноматериалы--наноструктуры--нанотехнология--нанокристаллические порошки--электронная микроскопия--нанокристаллические материалы--наночастицы--аморфные сплавы--нанопорошки
Экземпляры : всего 1: чз№1(1), чз№2(3), абунл(4), кнхр(1)
Свободны : чз№1(1), чз№2(3), абунл(4), кнхр(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 006.91/К 27
Автор(ы) : Карцев, Евгений Александрович, Юрин, Александр Игоревич
Заглавие : Основы нанометрологии : [учебное пособие по дисциплине "Методы и средства измерений, испытаний и контроля", изучаемой по специальности 22051 "Управление качеством"]
Выходные данные : Москва: Моск. гос. ин-т электроники и математики, 2012
Колич.характеристики :136 с.: рис.
ISBN, Цена 978-5-94506-331-0: 310.53, 310.53, р.
ГРНТИ : 90.01.33
УДК : 006.91-022.532(075.8)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология--гриф рис московского государственного института электроники и математики--учебные пособия--нанообъект--наноизмерения--метрологическое обеспечение наноизмерений--нанопокрытия--электронная микроскопия--метрология
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : RU-LAN-BOOK-73017
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхард К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :376 с
Примечания : Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5: Б.ц.
УДК : 537.533.35
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Инженерно-технические науки-- Машиностроение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая--атомно-силовая микроскопия--волна--волокно--дифракция--излучение--изображение--изображения (цифровая обработка)--исследование материалов--компьютерная микроскопия--конструкционные материалы--конфокальная лазерная микроскопия--конфокальная микроскопия--лазерная--линза--материаловедение--микроскоп--микроскопические методы--микроскопия--микроскопия оптическая--микроскопия отраженного света--микроскопы оптические--монография--оптика (исследования)--пленка--поляризация--рамановская--рамановская микроскопия--растровая--рентгеновская микроскопия--светофильтр--сканирующая--сканирующая акустическая микроскопия--спектроскопия--стеклопластик--томография--тонкая--фотоника--цифровое--цифровые изображения--электромагнитное--электромагнитное излучение--электронная микроскопия--эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 55/К 82
Автор(ы) : Уманский, Яков Семенович, Скаков, Юрий Александрович, Иванов, Александр Николаевич, Расторгуев, Леонид Николаевич
Заглавие : Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учебник для вузов по специальностям. "Физика металлов" и "Металловедение, оборудование и технология термической обработки металлов"
Выходные данные : Москва: Металлургия, 1982
Колич.характеристики :631 с.: ил., табл
Примечания : Библиогр.: с. 628 - 631
Цена : 1.40, 1.40, р.
ГРНТИ : 29.19
УДК : 548(075.8) + 551(075.8)
ББК : 22.37я73
Предметные рубрики: Физика твердого тела-- Кристаллография
Рентгенография
Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): учебники--физика твердого тела--кристаллография--рентгенография--электронная микроскопия
Экземпляры : всего : чз№1(1), кнхр(1)
Свободны : чз№1(1), кнхр(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57/Н 80
Автор(ы) : Нолтинг Б.
Заглавие : Новейшие методы исследования биосистем
Выходные данные : М.: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :254 c.: ил.
Серия: Мир биологии и медицины
ISBN, Цена 5-94836-044-X: 175.00, 175.00, р.
ГРНТИ : 76.01.21 + 34.05.17
УДК : 57.08 + 61:001.89
Предметные рубрики: Биология
Географич. рубрики: Россия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биологические системы--масс-спектрометрия--электронная микроскопия--зондовая микроскопия--нанотехнология--спектрометрия--протеомика--микроскопия--белковая инженерия--биосистемы--ик-спектроскопия--микрочипы--нейронные сети--сканирующая зондовая микроскопия--хромотография--медицина
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.38/П 56
Автор(ы) : Пономаренко, Владимир Павлович, Филачев, Анатолий Михайлович
Заглавие : Инфракрасная техника и электронная оптика. Становление научных направлений (1946-2006) : [научное издание] . -Изд. 2-е, стер.
Выходные данные : Москва: Физматкнига, 2008
Колич.характеристики :334 с.: ил., фото
ISBN, Цена 978-5-89155-175-6: 252.00 ; Б. ц., 252.00, р.
ГРНТИ : 47.57
УДК : 621.384.3(09) + 681.7(09)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): инфракрасная физика--лазерная физика--приборы ночного видения--техника ночного видения--фотоэлектроника--тепловизионные приборы--электронно-оптические преобразователи--лазерные приборы--оптико-электронные приборы--электронная микроскопия--физика полупроводников
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61/П 57
Автор(ы) : Попечителев, Евгений Парфирович
Заглавие : Технические методы диагностики биоматериалов : [учебное пособие для студентов вузов по направлению подготовки "Биотехнические системы и технологии"]
Выходные данные : Старый Оскол: ТНТ, 2014
Колич.характеристики :315 с.: ил.
Серия: Тонкие наукоемкие технологии : ТНТ
Примечания : Библиогр.: с. 303-304 (16 назв.)
ISBN, Цена 978-5-94178-429-5: 577.50, 577.50, р.
ГРНТИ : 76.09
УДК : 615.46(075.8)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биоматериалы--гриф умо вузов рф по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации--учебные пособия--диагностические исследования--диагностика биоматериалов--хроматографические методы диагностики--хроматография--рентгеновская спектроскопия--ядерный магнитный резонанс--эпр-дозиметрия--магниторезонансная томография--электронная микроскопия--томография медицинская
Экземпляры : всего : чз№2(1), абунл(3), кнхр(1)
Свободны : чз№2(1), абунл(3), кнхр(1)
Найти похожие
 1-10    11-12 
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 13983
Число посетителей 456
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».