Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Статьи (18)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=пленка<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623.445/Л 38 яяя (другие формы)
Заглавие : Легкие баллистические материалы
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2011
Колич.характеристики :392 с.
ISBN, Цена 978-5-94836-163-5: Б.ц.
УДК : 623.445
ББК : 68.512
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): азиатский--бронежилет--бронежилеты--бронематериал--винтовка--винтовки (оружие)--волокнистые материалы--волокно--вооруженные силы (ракетостроение)--деформация--европейский--каска--каски--керамика--композит--легкие баллистические материалы--материалы баллистические--матрица--нагрудная--огнестрельное--оружие--оружие огнестрельное--осколок--пистолет--пистолеты (оружие)--пластина--пленка--препреги--пуля--средства индивидуальной защиты--термореактивная--техника военная--удар--учебное пособие--щит--эбс лань--эбс лань--эбс лань--эбс лань--эбс лань--эбс лань
Аннотация: В книге рассмотрен новый класс материалов, из которых делают легкую броню. Производство таких изделий в последнее время выделилось в самостоятельную индустрию. Показаны требования, предъявляемые к лeгким баллистическим материалам, методы их испытания и сферы применения. Представлены облегченные волокнистые материалы, из которых делают средства индивидуальной защиты – бронежилеты, каски и броню транспортных средств. Книга состоит из введения и двух основных частей, написанных разными авторами и собранными в единое издание под редакцией А. Бхатнагара. Впервые сделана попытка собрать наиболее полную информацию по данной теме. Издание поможет специалистам лучше разобраться в новейших легких бронематериалах и взаимозависимости их технических характеристик
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : RU-LAN-BOOK-73017
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхард К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :376 с
Примечания : Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5: Б.ц.
УДК : 537.533.35
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Инженерно-технические науки-- Машиностроение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая--атомно-силовая микроскопия--волна--волокно--дифракция--излучение--изображение--изображения (цифровая обработка)--исследование материалов--компьютерная микроскопия--конструкционные материалы--конфокальная лазерная микроскопия--конфокальная микроскопия--лазерная--линза--материаловедение--микроскоп--микроскопические методы--микроскопия--микроскопия оптическая--микроскопия отраженного света--микроскопы оптические--монография--оптика (исследования)--пленка--поляризация--рамановская--рамановская микроскопия--растровая--рентгеновская микроскопия--светофильтр--сканирующая--сканирующая акустическая микроскопия--спектроскопия--стеклопластик--томография--тонкая--фотоника--цифровое--цифровые изображения--электромагнитное--электромагнитное излучение--электронная микроскопия--эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Ефимов И. Е., Козырь И. Я.,
Заглавие : Основы микроэлектроники / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь . -3-е изд.
Выходные данные : Санкт-Петербург: Лань, 2022
Колич.характеристики :384 с.
ISBN, Цена 978-5-8114-0866-5: Б.ц.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): учебник--интегральные микросхемы--микросхемотехника--микроэлектроника--акустоэлектроника--биополярные транзисторы--биоэлектроника--биполярные транзисторы--биполярный--бис--большие интегральные микросхемы--большие интегральные системы--большие интегральные схемы--герметизация--гибридная--гибридные интегральные микросхемы--диод--диоды--диэлектрическая--диэлектрическая электроника--изоляция--имс--интегральная--интегральные микросхемы качество надежность применение--интегральные схемы--качество--конденсатор--конденсаторы--мдп--мдп-транзисторы--межслойный--микропроцессор--микропроцессоры--микросхема--микросхемы для аппаратуры связи--миниатюризация--надежность--оптоэлектроника--основы--пленка--полупроводники--полупроводниковая--полупроводниковые интегральные микросхемы--полупроводниковые интегральные системы--полупроводниковые интегральные схемы--полупроводниковые конденсаторы--полупроводниковые резисторы--развитие--развитие микроэлектроники--резистор--резисторы--сборка--создание интегральных микросхем--схемотехника--тонкая--транзистор--транзисторы--учебник и пособие--учебники--учебники для вузов--функциональная--функциональная микроэлектроника--хемотроника--электроника--электронная аппаратура--электротехника--эбс лань
Аннотация: В учебнике изложены основные направления развития микроэлектроники: рассмотрены физические основы, конструкция, технология, структурные элементы и аспекты проектирования интегральных микросхем (ИМС) и больших интегральных схем (БИС). Рассмотрены отдельные технологические процессы, схемотехнические решения, машинные методы проектирования и изготовления изделий микроэлектроники. Учебник предназначен для студентов технических вузов и университетов, изучающих микроэлектронику.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Смирнов Ю. А., Соколов С. В., Титов Е. В.,
Заглавие : Физические основы электроники / Ю. А. Смирнов, С. В. Соколов, Е. В. Титов . -2-е изд., испр.
Выходные данные : Санкт-Петербург: Лань, 2022
Колич.характеристики :560 с.
ISBN, Цена 978-5-8114-1369-0: Б.ц.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): p-n-переходы--биполярные транзисторы--диод--диэлектрические пленки--избирательные усилители--металлические пленки--микросхема интегральная--микроэлектроника--микроэлектронные структуры--операционные усилители--пленка диэлектрическая--пленка металлическая--пленочные структуры--полупроводники--полупроводниковая электроника--полупроводниковые диоды--полупроводниковые приборы--полупроводниковые резисторы--полупроводниковые структуры--полупроводниковые структуры пленочные структуры--пособия для бакалавров--пособия для магистров--приборы полупроводниковые--процесс кинетический--резистор--система тонкопленочная--структура микроэлектронная--структуры пленочные--структуры полупроводниковые--техника--тиристор--тиристоры--тонкие пленки--транзистор--транзисторные каскады--транзисторные усилители--униполярные транзисторы--усилители мощности--усилители напряжения--усилители постоянного тока--усилитель операционный--усилительные каскады--учебные пособия--физика полупроводников--физические методы электроники--физические основы электроники--электроника--электроника (основы)--электроника полупроводниковая--электронно-дырочные переходы--электрофизика--эмиссия туннельная--эффект туннельный--эбс лань
Аннотация: В книге изложены историческая справка физики становления и развития полупроводниковой электроники, физические основы полупроводниковых и пленочных структур, физические основы построения элементной базы приборов и устройств на ее основе, их упрощенного математического анализа. Пособие содержит контрольные вопросы, задачи с решениями и рекомендуемую литературу для углубленного изучения материала. Предназначено для подготовки бакалавров, магистров и специалистов направлений: «Электроэнергетика и электротехника», «Электроника и наноэлектроника», «Радиотехника», «Информационные технологии и системы связи», «Конструирование технологии и микросистемная техника».
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 19.08.2024
Число запросов	56593
Число посетителей	565
Число заказов	0