Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=Компьютерная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 681.7/П 16
Автор(ы) : Пантелеев В. Г., Егорова О. В., Клыкова Е. И.
Заглавие : Компьютерная микроскопия
Выходные данные : М.: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :303 c.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
ISBN, Цена 5-94836-025-3: 235.00:289.00 р.
ГРНТИ : 29.31.29
УДК : 681.723 + 004.31
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализаторы изображений--компьютерная микроскопия
Экземпляры : всего : чз№2(1), абунл(7), кнхр(1)
Свободны : чз№2(1), абунл(7), кнхр(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : RU-LAN-BOOK-73017
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхард К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :376 с
Примечания : Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5: Б.ц.
УДК : 537.533.35
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Инженерно-технические науки-- Машиностроение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая--атомно-силовая микроскопия--волна--волокно--дифракция--излучение--изображение--изображения (цифровая обработка)--исследование материалов--компьютерная микроскопия--конструкционные материалы--конфокальная лазерная микроскопия--конфокальная микроскопия--лазерная--линза--материаловедение--микроскоп--микроскопические методы--микроскопия--микроскопия оптическая--микроскопия отраженного света--микроскопы оптические--монография--оптика (исследования)--пленка--поляризация--рамановская--рамановская микроскопия--растровая--рентгеновская микроскопия--светофильтр--сканирующая--сканирующая акустическая микроскопия--спектроскопия--стеклопластик--томография--тонкая--фотоника--цифровое--цифровые изображения--электромагнитное--электромагнитное излучение--электронная микроскопия--эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 11.08.2024
Число запросов	18507
Число посетителей	479
Число заказов	0