Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=КОНТРОЛЬ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Готра З. Ю. Контроль качества и надежность микросхем/З. Ю. Готра, И. М. Николаев. - 1989
 
Статистика
за 02.07.2024
Число запросов 134393
Число посетителей 845
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».