Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Книги- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=ГРИФ РИС МОСКОВСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО института электроники и математики<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Карцев Е. А. Основы нанометрологии/Е. А. Карцев, А. И. Юрин. - 2012
 
Статистика
за 15.07.2024
Число запросов 162886
Число посетителей 553
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».