Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Статьи (3)

Полные тексты изданий ПГТУ (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=АТОМНО-силовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.3/Н 25
Автор(ы) : Абатурова А. М., Багров Д. В., Байжуманов А. А., Бонарцев А. П.
Заглавие : Нанобиотехнологии : практикум
Выходные данные : Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012
Колич.характеристики :384 с.: ил.
ISBN, Цена 978-5-9963-0627-5: 477.00, 477.00, р.
ГРНТИ : 81.13.01
УДК : 620.3(076.5) + 573.6(076.5) + 60(076.5)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанобиотехнология--практикумы--биологические мембраны--мембраны биологические--биологические структуры--биотехнология--нанотрубки--нанообъекты--наноразмерные лекарственные средства--лекарственные средства наноразмерные--атомно-силовая микроскопия--микроскопия атомно-силовая--спектроскопия кр--наноструктуры--лазерная микроскопия--наноматериалы--инфракрасная спектроскопия
Экземпляры :кнхр(1)
Свободны : кнхр(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 53/И 88
Заглавие : Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии : методические указания к выполнению лабораторной работы : [для студентов направлений подготовки 11.03.01, 11.03.02, 11.03.03, 11.03.04, 12.03.04, 27.03.04, 27.03.02]
Выходные данные : Йошкар-Ола: ПГТУ, 2016
Колич.характеристики :28 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 28 (4 назв.)
Цена : 13.00, 12.86, р.
ГРНТИ : 29.35.43
УДК : 539.2(07) + 537.533.35(07) + 543.42(07) + 543.456(07)
Экземпляры : всего 43: чз№2(2), абунл(41)
Свободны : чз№2(2), абунл(41)
Перейти к внешнему ресурсу Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии.
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : RU-LAN-BOOK-73017
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхард К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :376 с
Примечания : Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5: Б.ц.
УДК : 537.533.35
ББК : В338.4
Предметные рубрики: Инженерно-технические науки-- Машиностроение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акустические рентгеновские цифровое изображение оцифровка сканирующая--атомно-силовая микроскопия--волна--волокно--дифракция--излучение--изображение--изображения (цифровая обработка)--исследование материалов--компьютерная микроскопия--конструкционные материалы--конфокальная лазерная микроскопия--конфокальная микроскопия--лазерная--линза--материаловедение--микроскоп--микроскопические методы--микроскопия--микроскопия оптическая--микроскопия отраженного света--микроскопы оптические--монография--оптика (исследования)--пленка--поляризация--рамановская--рамановская микроскопия--растровая--рентгеновская микроскопия--светофильтр--сканирующая--сканирующая акустическая микроскопия--спектроскопия--стеклопластик--томография--тонкая--фотоника--цифровое--цифровые изображения--электромагнитное--электромагнитное излучение--электронная микроскопия--эбс лань
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания :
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович,
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :328 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 302-327.
ISBN, Цена 978-5-94836-426-1: Б.ц.
Предметные рубрики: Транзисторы сверхвысокочастотные
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия--омические контакты--рентгеновские методы--аппаратура--нитрид-галлиевые приборы--примеси--электронная спектроскопия--стандарты--интеллектуальная собственность--свч-транзисторы--свч-электроника--создание--технологические процессы--широкозонные материалы--выявление--дефекты--гетероструктуры--оптические методы--качество--электрический контроль--тепловой контроль--эбс лань
Аннотация: "В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе. Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры."В книге представлено обобщение накопленного опыта по созданию методов входного и технологического контроля при разработке и производстве СВЧ транзисторов на основе широкозонных материалов, в частности, транзисторов на гетероструктурах типа AIGaN/GaN. Рассмотрены системы отечественных и зарубежных стандартов, на основе которых проводятся разработки СВЧ транзисторов. Подробно описаны физические основы гетероструктур, описаны свойства широкозонных полупроводников, методы изготовления СВЧ транзисторов. Детально анализируется технология производства транзисторов с учетом имеющегося опыта их реального изготовления. Рассмотрены электрические, оптические, рентгеновские, электронно-микроскопические и аналитические методы, которые применяются при входном и технологическом методах контроля. Рассмотрен опыт создания в ОАО «НПП «Пульсар» СВЧ транзисторов и СВЧ блоков на их основе.Книга будет полезна специалистам в области электроники, исследователям, инженерам-практикам и разработчикам радиоэлектронной аппаратуры.
Перейти к внешнему ресурсу ЭБС Лань. Доступ до 31.08.2024
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 07.07.2024
Число запросов	126426
Число посетителей	837
Число заказов	0