Информационно-библиотечный центр Поволжского государственного технологического университета

Главная

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

Книги- результаты поиска

Вид поиска

Книги

Статьи

Полные тексты изданий ПГТУ

Периодика

Авторефераты и диссертации

Область поиска

Найдено в других БД:

Статьи (12)

Полные тексты изданий ПГТУ (5)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Сушенцов, Николай Иванович$<.>)

Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8

   681.7
   П 53


    Получение виртуального изображения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и оценка его информативности [Электронный ресурс] : метод. указания к выполнению лаб. работы / ГОУ ВПО "Мар. гос. техн. ун-т" ; [сост. : В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2011. - 40 с. : ил. - 11.40 р.

29.35.43
УДК	537.533.35(07)	621.385.833(07)	681.723(07)

Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- NANOEDUCATOR -- МИКРОСКОПЫ
Перейти к внешнему ресурсу Получение виртуального изображения сканирующей зондовой микроскопии и оценка его информативности.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 54
чз№2 (16), абунл (38)
Свободны: чз№2 (16), абунл (38)

Найти похожие

   Ч48
   И 62

    Инженерные кадры - будущее инновационной экономики России [Текст] : материалы II Всероссийской студенческой конференции, Йошкар-Ола, 21-25 ноября 2016 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т". - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2016.
   Ч. 3 : Новые технологии инфокоммуникаций, радиотехники и электроники для прорывных отраслей промышленности / [редкол.: А. Н. Дедов и др.]. - 2016. - 134 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-8158-1793-7 : 100.00 р.

ГРНТИ

14.35.07

ББК Ч480я431 + У9(2Рос)-551я431

Рубрики: Россия--Наука
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ КОНФЕРЕНЦИЙ -- СБОРНИКИ СТАТЕЙ -- ИНЖЕНЕРНОЕ ОБРАЗОВАНИЕ -- ПОДГОТОВКА КАДРОВ -- НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ СТУДЕНТОВ -- РАДИОТЕХНИКА -- ИНФОКОММУНИКАЦИИ -- ЭЛЕКТРОНИКА -- ПРОМЫШЛЕННОСТЬ
Доп.точки доступа:
Дедов, Андрей Николаевич \ред.\
Зуев, Алексей Валерьевич \ред.\
Роженцов, Алексей Аркадьевич \ред.\
Рябова, Наталья Владимировна \ред.\
Сушенцов, Николай Иванович \ред.\
Захаров, Юрий Владимирович \ред.\
Поволжский гос. технологический ун-т(Йошкар-Ола)

Экземпляры всего: 1
кнхр (1)
Свободны: кнхр (1)

Найти похожие

   53
   И 88


    Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии [Электронный ресурс] : методические указания к выполнению лабораторной работы : [для студентов направлений подготовки 201000, 210100, 210400, 210700, 211000, 220400, 221400] / М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост.: В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : [ПГТУ], 2014. - 42 с. : ил. - Библиогр.: с. 42 (5 назв.). - 13.78 р., 13.62 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	53.087.22(07)	537.533.35(07)

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОСКОПИЯ (физика) -- ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- МИКРОСКОПИЯ туннельная -- МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- МИКРОСКОПЫ -- ТУННЕЛЬНые микроскопы -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Перейти к внешнему ресурсу Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 45
чз№2 (6), абунл (39)
Свободны: чз№2 (6), абунл (39)

Найти похожие

   681.7
   П 53


    Получение первого изображения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и обработка результатов эксперимента [Электронный ресурс] : методические указания к выполнению лабораторной работы / М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т" ; [сост. В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов]. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2013. - 47 с. : рис. - 11.14 р., 11.39 р.

ГРНТИ	29.35.43
УДК	681.723(07)	621.385.833(07)	537.533.35(07)

Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДИЧЕСКИЕ УКАЗАНИЯ -- ЛАБОРАТОРНЫЕ РАБОТЫ -- ГРИФ РИС ПГТУ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- сканирующие зондовые микроскопы -- цифровые видеомикроскопы -- МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ -- ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ -- ВИДЕОМИКРОСКОПЫ -- ОБРАБОТКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫх ДАННЫХ -- NanoEducator (зондовый микроскоп)
Перейти к внешнему ресурсу Получение первого изображения сканирующей зондовой микроскопии и обработка результатов эксперимента.

Доп.точки доступа:
Филимонов, Виталий Евгеньевич \сост.\
Сушенцов, Николай Иванович \сост.\

Экземпляры всего: 50
абунл (43), кнхр (1), чз№2 (6)
Свободны: абунл (43), кнхр (1), чз№2 (6)

Найти похожие

   621.382
   Ф 53

    Филимонов, Виталий Евгеньевич.
    Технология очистки подложек микро- и наноэлектроники [Текст : Электронный ресурс] : [учеб. пособие для студентов вузов по направлениям подгот. 211000 "Конструирование и технология электрон. средств", 210100 "Электроника и наноэлектроника"] / В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов ; М-во образования и науки РФ, ГОУ ВПО "Мар. гос. техн. ун-т". - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2011. - 159 с. : ил. - ISBN 978-5-8158-0867-6 : 46.82 р., 47.37 р.

ГРНТИ	47.33.31
УДК	621.382.049.77(075.8)	621.382-022.532(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
ГРИФ УМО ВУЗОВ РФ ПО ОБРАЗОВАНИЮ В ОБЛАСТИ РАДИОТЕХНИКИ, ЭЛЕКТРОНИКИ, БИОМЕДИЦИНСКОЙ ТЕХНИКИ И АВТОМАТИЗАЦИИ -- УЧЕБНЫЕ ПОСОБИЯ -- подложки (электронная техника) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- ВАКУУМНАЯ ТЕХНИКА -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТРАВЛЕНИЕ химическое -- ОЧИСТКА подложек
Перейти к внешнему ресурсу Технология очистки подложек микро- и наноэлектроники.

Доп.точки доступа:
Сушенцов, Николай Иванович

Экземпляры всего: 71
чз№2 (5), абунл (66)
Свободны: чз№2 (5), абунл (66)

Найти похожие

   621.382
   С 91

    Сушенцов, Николай Иванович.
    Основы технологии микроэлектроники [Текст : Электронный ресурс] : [лаб. практикум для студентов вузов по специальностям 200800, 220500 и направлениям 551100, 654300] / Н. И. Сушенцов, В. Е. Филимонов. - 3-е изд., перераб. и доп. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2005. - 184 c. : ил. - ISBN 5-8158-0366-9 : 45.52 р.

47.33.31
УДК	621.382.049.77(075)

Рубрики: МарГТУ--Издания

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника (технология) -- Лабораторные практикумы -- Гриф УМО по образованию
Перейти к внешнему ресурсу Основы технологии микроэлектроники.

Доп.точки доступа:
Филимонов, В. Е.

Экземпляры всего: 12
чз№2 (11), кнхр (1)
Свободны: чз№2 (6), кнхр (1)

Найти похожие

   621.382
   С 91

    Сушенцов, Николай Иванович.
    Основы технологии микроэлектроники [Текст] : лаб. практикум для студентов [специальностей: 200800, 201500, 200700, 201100, 210100, 220500] / Н. И. Сушенцов, В. Е. Филимонов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2004. - 155 c. : ил. - 16.75 р.

47.33.31
УДК	621.382.049.77-027.22(075)

Рубрики: МарГТУ--Издания

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника (технология) -- Лабораторные практикумы
Доп.точки доступа:
Филимонов, В. Е.

Экземпляры всего: 149
кнхр (1), абунл (56), чз№2 (15), аб (77)
Свободны: кнхр (1), абунл (56), чз№2 (11), аб (77)

Найти похожие

   621.382
   С 91

    Сушенцов, Николай Иванович.
    Основы технологии микроэлектроники [Текст] : лаб. практикум для студентов специальностей 200800, 201500, 200700, 201100, 210100, 220500 / Н. И. Сушенцов, В. Е. Филимонов. - Йошкар-Ола : МарГТУ, 2003. - 132 c. : ил. - 16.75 р.

47.33.31
УДК	621.382.049.77-027.22(07)

Рубрики: МарГТУ--Издания

Кл.слова (ненормированные):
Микроэлектроника (технология) -- Лабораторные практикумы
Доп.точки доступа:
Филимонов, В. Е.

Экземпляры всего: 169
абунл (5), аб (164)
Свободны: абунл (5), аб (164)

Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика за 30.06.2024
Число запросов	7663
Число посетителей	324
Число заказов	0