Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Полные тексты изданий ПГТУ- результаты поиска

Вид поиска
Книги
Статьи
Полные тексты изданий ПГТУ
Периодика
Авторефераты и диссертации
Область поиска
 Найдено в других БД:Книги (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=Физические основы микроэлектроники<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа :
Шифр издания : 621.382/И 28
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич
Заглавие : Физические основы микроэлектроники : практикум
Выходные данные : Йошкар-Ола: МарГТУ, 2008
Колич.характеристики :202 с.: ил.
Цена : 33.35: 34.08 р.
ГРНТИ : 47.33.31
УДК : 621.382 + 621.382.049.77(076)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника (физические основы)--физические основы микроэлектроники--практикумы
Перейти к внешнему ресурсу Физические основы микроэлектроники
Найти похожие
2.

Вид документа :
Шифр издания : 621.382/И 28
Автор(ы) : Игумнов, Владимир Николаевич
Заглавие : Физические основы микроэлектроники : учеб. пособие
Выходные данные : Йошкар-Ола: МарГТУ, 2008
Колич.характеристики :271 с.: ил
Цена : 134.45 р.
ГРНТИ : 47.33.31
УДК : 621.382.049.77(075.8)
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектроника (физические основы)--физические основы микроэлектроники--учебные пособия--квантовая механика (физические основы)--статистическая физика--твердое тело (электропроводность)--поверхностные явления в полупроводниках--тонкие пленки в электронике
Перейти к внешнему ресурсу Физические основы микроэлектроники.
Найти похожие
3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 621.382/М 80
Автор(ы) : Мороз, Андрей Викторович
Заглавие : Физические основы микроэлектроники: лабораторный практикум по дисциплине "Физические основы электроники"/ А. В. Мороз, В. Е. Филимонов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, ФГБОУ ВО "Поволжский государственный технологический университет". Часть 1: Исследование параметров полупроводников
Выходные данные : Йошкар-Ола: ПГТУ, 2024
Колич.характеристики :59 с.: ил., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 59 (7 назв.)
ISBN, Цена 978-5-8158-2268-9: Б.ц.
ГРНТИ : 47.03.05
УДК : 621.382(076)
ББК : 32.844.1я73
Предметные рубрики: Микроэлектроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): практикумы--лабораторные работы--микроэлектроника--физические основы микроэлектроники--полупроводники--исследование полупроводников с помощью эффекта холла--исследование полупроводников с помощью термо-эдс
Перейти к внешнему ресурсу Физические основы микроэлектроники;Часть 1
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика
за 04.07.2024
Число запросов 175412
Число посетителей 1045
Число заказов 0
© 2006-2022 Поволжский государственный технологический университет, ФГБОУ ВО «ПГТУ».