Поисковый запрос: (<.>A=Филимонов, Виталий Евгеньевич$<.>) |
Общее количество найденных документов : 11
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Мороз, Андрей Викторович Физические основы микроэлектроники. Часть 1:Исследование параметров полупроводников. - 2024
|
2.
| Филимонов В. Е. Рентгенофлуоресцентный анализ/В. Е. Филимонов, А. В. Мороз. - 2023
|
3.
| Мороз А. В. Методы испытаний электронных изделий/А. В. Мороз, В. Е. Филимонов. - 2022
|
4.
| Филимонов В. Е. Микроскопический анализ дисперсного состава порошков/В. Е. Филимонов, А. В. Мороз. - 2020
|
5.
| Филимонов В. Е. ИК Фурье-анализ/В. Е. Филимонов, А. В. Мороз. - 2020
|
6.
| Филимонов В. Е. Атомно-абсорбционный анализ/В. Е. Филимонов. - 2017
|
7.
| Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей атомно-силовой микроскопии/М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВО "Поволж. гос. технол. ун-т". - 2016
|
8.
| Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии/М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т". - 2014
|
9.
| Получение первого изображения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и обработка результатов эксперимента/М-во образования и науки РФ, ФГБОУ ВПО "Поволж. гос. технол. ун-т". - 2013
|
10.
| Филимонов В. Е. Технология очистки подложек микро- и наноэлектроники/В. Е. Филимонов, Н. И. Сушенцов. - 2011
|
|
|
|
Главная
Описание
Книги
Стандартный