Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 537 Автор(ы) : Фишер Х. Заглавие : Комбинация взаимодополняющих технологий в микроскопии Серия: Контроль и измерения Место публикации : Наноиндустрия. - 2010. - N 4. - С. 50-52 УДК : 537 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы атомные силовые для нанотехнологий--микроскопические объекты (квантовое поведение)--трехмерные изображения (анализ, обработка) Аннотация: Описан метод комбинационное (рамановское) рассеяние, которое позволяет исследовать структурные и химические трехмерные изображения образцов с разрешением в субмикронном диапазоне.