Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.382 Автор(ы) : Квапель Д. Заглавие : Тотальный контроль качества в руках контрактного производителя Место публикации : CHIP NEWS. - 2008. - N7. - С. 13-15 УДК : 621.382 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): контроль изделий в электронной технике--качество полупроводниковых изделий--тестовое оборудование (электронных производств) Экземпляры :чз N2(1) Свободны : чз N2(1)