Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.382.049 Автор(ы) : Зебрев Г.И. Заглавие : Моделирование ионизационного воздействия нейтронов на элементы КМОП-технологий высокой степени интеграции[Текст] Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - С. N3.-С.217-229.Библиогр.: 18 назв. УДК : 621.382.049 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиационная стойкость--кмоп-схемы--кмоп-технологии Экземпляры :ЧЗ N2(1) Свободны : ЧЗ N2(1)