Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.3.049 Автор(ы) : Никифоров А. Ю., Скоробогатов П. К. Заглавие : Моделирование радиационных эффектов в изделиях микроэлектроники[Текст] Место публикации : Микроэлектроника. - 2006. - Т.3. - С. N3.-С.164-177. Примечания : Микросхемы УДК : 621.3.049 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): радиационная стойкость--микроэлектроника(новые технологии) Аннотация: Моделирование радиационных эффектов в изделиях микроэлектроники. Исследование радиационной стойкости Экземпляры :ЧЗ N2(1) Свободны : ЧЗ N2(1) Доп.точки доступа: Скоробогатов, П. К.