Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.38.049.7 Автор(ы) : Строгонов А. Заглавие : Долговечность интегральных схем и производственные методы ее прогнозирования Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - N6. - С. 44-49. - (Надежность) УДК : 621.38.049.7 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): качество полупроводниковых изделий--интегральные схемы (прогнозирование долговечности)--прогнозирование долговечности ис Экземпляры :чзN2(1) Свободны : чзN2(1)