Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.382 Автор(ы) : Попо Р.А. Заглавие : Исследование микросхем памяти для оценки их радиационной стойкости Место публикации : Зарубежная радиоэлектроника. Успехи современной радиоэлектроники. - 2002. - N6. - С. 45-49.-Библиогр.:3 назв. УДК : 621.382 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микросхемы памяти(радиационная стойкость)--радиационная стойкость Экземпляры :чзN2(1) Свободны : чзN2(1)