Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.382 Автор(ы) : Горлов М., Адамян А., Каехтин А. Заглавие : Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность) УДК : 621.382 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность)--надежность полупроводниковых изделий (оценка)--контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы)--диоды (контроль качества, надежность)--транзисторы (контроль качества, надежность)--интегральные схемы (контроль качества, надежность) Экземпляры :чзN2(1) Свободны : чзN2(1) Доп.точки доступа: Адамян, А. Каехтин, А.