Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.38.049.77 Автор(ы) : Горлов М., Ануфриев Л., Строгонов А. Заглавие : Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС Место публикации : CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2001. - N5. - С. 22-26 УДК : 621.38.049.77 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные схемы (надежность, испытания) Экземпляры :чзN2(1) Свободны : чзN2(1) Доп.точки доступа: Ануфриев, Л. Строгонов, А.