Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : 621.892 Автор(ы) : Шелохвостов В.П., Образцов Д.В., Шелохвостов Р.В., Остриков В.В. Заглавие : Методические особенности электронно-микроскопических исследований структур нанометрового диапазона Место публикации : Технология металлов. - 2008. - N1. - С. 32- 34. - Библиогр.: 5 назв. УДК : 621.892 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронно-микроскопических исследования структур нанометрого диапазона--наноструктуры(электронно-микроскопические исследования)--наноматериалы(электронно-микроскопические исследования) Экземпляры :НЧЗ(1) Свободны : НЧЗ(1) Доп.точки доступа: Шелохвостов, В.П. Образцов, Д.В. Шелохвостов, Р.В. Остриков, В.В.