Попо, Р. А.
    Исследование микросхем памяти для оценки их радиационной стойкости [Текст] / Р.А.Попо // Зарубежная радиоэлектроника. Успехи современной радиоэлектроники. - 2002. - N6. - 45-49.-Библиогр.:3 назв.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
Микросхемы памяти(радиационная стойкость) -- Радиационная стойкость