Горлов, М. Диагностические методы контроля качества и прогнозирующей оценки надежности полупроводниковых приборов [Текст] / М.Горлов,А.Адамян,А.Каехтин // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 48-51. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные): Полупроводниковые изделия (контроль качества, надежность) -- Надежность полупроводниковых изделий (оценка) -- Контроль качества полупроводниковых изделий (диагностические методы) -- Диоды (контроль качества, надежность) -- Транзисторы (контроль качества, надежность) -- Интегральные схемы (контроль качества, надежность) Доп.точки доступа: Адамян, А. Каехтин, А. |