Гусев, А. Малые выборки при оценке работоспособности и надежности электронных компонентов [Текст] / А.Гусев,Э.Лидский,О.Мироненко // CHIP NEWS.Инженерная микроэлектроника. - 2002. - №1. - С. 52-55. - (Надежность)
Кл.слова (ненормированные): Электронные компоненты (оценка работоспособности, надежности) -- Малые выборки (оценка надежности электроники) Доп.точки доступа: Лидский, Э. Мироненко, О. |