Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 32.85я73/Д 72 яяя (другие формы) Автор(ы) : Дракин А. Ю., Зотин В. Ф., Потапов Л. А., Заглавие : Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов / А. Ю. Дракин, В. Ф. Зотин, Л. А. Потапов . -2-е изд., стер. Выходные данные : Санкт-Петербург: Лань, 2021 Колич.характеристики :284 с. ISBN, Цена 978-5-8114-8773-8: Б.ц. УДК : 32.85я73 ББК : 621.3.049.77 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): аналоговые микросхемы--силовые диоды--транзисторы--тестер--эбс лань Аннотация: В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника». Доп.точки доступа: Зотин, В. Ф. Потапов, Л. А.