Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 53/Р 94 Автор(ы) : Рыков, Сергей Александрович Заглавие : Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для вузов по направлению "Техн. физика" Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2001 Колич.характеристики :52 c.: ил. Серия: Новые разделы физики полупроводников ISBN, Цена 5-02-024956-4: 10.00 р. ГРНТИ : 29.19.43 УДК : 537.311.322(075.8) + 537.533.35(075.8) Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры (микроскопия)--полупроводниковые материалы (микроскопия)--сканирующая зондовая микроскопия--учебные пособия Экземпляры :кнхр(1) Свободны : кнхр(1) Доп.точки доступа: Ильин, В. И. \ред.\ Шик, А. Я. \ред.\ |